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離子污染測試儀AC160

AC160是專門測試PCB/PCBA/半導體器件表面離子污染含量的自動測試儀器。

根據(jù)IPC-TM-650中定義的離子污染度測試的方法,測試過程包含溶劑再生、污染物萃取、污染物測量3個過程。

本測試儀采用高純度、高容量的離子交換柱,每次測試前根據(jù)設定的閾值對溶劑進行再生,保證在每次測試前,溶劑中的離子含量達到測試要求。

本測試儀采用特殊的循環(huán)萃取模式,把待測產品表面的離子型污染物萃取到測試溶劑中,再通過高精度的測量探頭和精密的分析系統(tǒng),準確測量出待測產品的總離子含量(以ug NaCl Eq表示),從而得到單位面積的平均離子含量(以ug NaCl Eq/cm2表示),進而判斷離子含量是否達到要求的標準,作為出貨的檢驗手段,為生產或清洗工藝的改善提供數(shù)據(jù)參考。

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 設備用途

AC160是專門測試PCB/PCBA/半導體器件表面離子污染含量的自動測試儀器。

根據(jù)IPC-TM-650中定義的離子污染度測試的方法,測試過程包含溶劑再生、污染物萃取、污染物測量3個過程。

本測試儀采用高純度、高容量的離子交換柱,每次測試前根據(jù)設定的閾值對溶劑進行再生,保證在每次測試前,溶劑中的離子含量達到測試要求。

本測試儀采用特殊的循環(huán)萃取模式,把待測產品表面的離子型污染物萃取到測試溶劑中,再通過高精度的測量探頭和精密的分析系統(tǒng),準確測量出待測產品的總離子含量(以ug NaCl Eq表示),從而得到單位面積的平均離子含量(以ug NaCl Eq/cm2表示),進而判斷離子含量是否達到要求的標準,作為出貨的檢驗手段,為生產或清洗工藝的改善提供數(shù)據(jù)參考。

 

 設備軟件

 

 設備特點

  1. 使用高精度交流測量系統(tǒng),無溶劑極化現(xiàn)象,保證測試的準確性。
  2. 自動校準功能,無需進行復雜的計算,一步到位。
  3. 特制再生裝置,再生速度快,使用壽命長。
  4. 根據(jù)PCB尺寸自動調整液位,大板、小板均可測試。
  5. 測試槽尺寸可定制。
  6. 測試溶液加熱,更易于離子析出。
  7. 全密閉測試環(huán)境,減少空氣中CO2對測試結果的影響。
  8. 浸入式噴淋清洗,保證離子污染物的完全萃取。
  9. 操作軟件簡單,直觀。測試過程全自動。
  10. 完全兼容各國際標準MIL-P-28809,MIL-STD-2000A,DEF-STD-10/03等。

 

 技術規(guī)格:

序號

項目

技術規(guī)格

備注

1

測試方法

靜態(tài)

 

2

液位可調整

標配

根據(jù)PCBA尺寸自動調整

3

測試范圍

0.01-20.00ug NaCL Eq/cm2

 

4

分辨率

0.001uS/cm

 

5

溶劑容量

15L

 

6

測試精度

5%

 

8

可測產品尺寸

L480*W400*H45(mm)

特殊尺寸可定制

9

機器尺寸

L890*W430*H1090(mm)

 

10

加熱功能

標配

 

11

溶劑加熱溫度

RT~45℃

 

12

重量

80kg

 

13

電源

220V AC, 50Hz, 6A,1P